硅整流二极管组件低温性能测试
文献类型：期刊论文
| 作者 | 万理军 ; 郭兴龙 ; 潘衡 ; 徐风雨 |
| 刊名 | 低温与超导
 |
| 出版日期 | 2009 |
| 期号 | 4 |
| 关键词 | 硅整流二极管 超导磁铁 虚拟仪器 |
| 通讯作者 | 万理军 |
| 中文摘要 | 为了验证硅整流二极管组件在低温下能否正常工作,利用电流表、温度计和数据采集卡结合LabVIEW虚拟仪器软件组建的测试系统测试了组件在284K和77K下的伏安特性。实验结果表明组件在低温下依然呈现出二极管的各项性能,可以用于超导磁铁的失超保护系统。 |
| 收录类别 | CNKI |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-05-23 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/8493]  |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2004-2010年 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 万理军,郭兴龙,潘衡,等. 硅整流二极管组件低温性能测试[J]. 低温与超导,2009(4). |
| APA | 万理军,郭兴龙,潘衡,&徐风雨.(2009).硅整流二极管组件低温性能测试.低温与超导(4). |
| MLA | 万理军,et al."硅整流二极管组件低温性能测试".低温与超导 .4(2009). |
入库方式： OAI收割
来源：上海应用物理研究所
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