用于X荧光分析的半导体探测器
文献类型：期刊论文
| 作者 | 徐慧超 ; 张金洲 ; 沈浩元 |
| 刊名 | 常熟理工学院学报
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| 出版日期 | 2006 |
| 期号 | 2 |
| 关键词 | Si(Li)探测器 碲锌镉(CZT) 室温探测器 性能 X射线 元素分析 |
| 通讯作者 | 徐慧超 |
| 中文摘要 | 随着X荧光检测方法的广泛应用,作为核心的探测器性能显得尤其重要。国内研制的Si(Li)X射线探测器,部分性能指标达到并超过了国外水平,为我国X荧光仪整体性能的提升,打下了良好基础。另外,碲锌镉(CZT)晶体作为一种新型半导体材料,由于原子序数高、禁带宽、密度大,制成低能γ射线和X射线探测器不需液氮冷却就能得到相当好的能量分辨率,且有相当高的探测效率。因此近年来发展迅速。我们实验室已制成Φ8×1.7mm3灵敏体积的CZT探测器,室温22℃下对241Am放射源、59.54keV能量的γ射线能量分辨率可以达到/2.06keV(FWHM)(未使用准直器),连续测量没有极化效应,并且具有很好的长期稳定性。 |
| 收录类别 | CNKI |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-05-23 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/8523]  |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2004-2010年 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 徐慧超,张金洲,沈浩元. 用于X荧光分析的半导体探测器[J]. 常熟理工学院学报,2006(2). |
| APA | 徐慧超,张金洲,&沈浩元.(2006).用于X荧光分析的半导体探测器.常熟理工学院学报(2). |
| MLA | 徐慧超,et al."用于X荧光分析的半导体探测器".常熟理工学院学报 .2(2006). |
入库方式： OAI收割
来源：上海应用物理研究所
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