脉冲调制器机柜屏蔽效能分析测试
文献类型:期刊论文
作者 | 李长兴 ; 谷鸣 ; 陈志豪 ; 袁启兵 ; 范学荣 |
刊名 | 核技术
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出版日期 | 2007-02-10 |
期号 | 02 |
通讯作者 | 李长兴 |
中文摘要 | 高功率脉冲调制器是电子直线加速器(LINAC)的功率源,脉冲调制器在运行中会产生很强的电磁干扰。为了满足上海光源LINAC的高精度要求,脉冲调制器必须尽量抑制这些电磁干扰。本文介绍对上海光源150MeV高性能LINAC调制器的电磁辐射抑制的分析研究和测试。分析了电磁辐射的泄漏途径,对调制器机柜的屏蔽效能进行了定性、定量分析,并进行了测试。验证了调制器机柜的EMC设计制作对电磁干扰抑制的有效性。 |
收录类别 | CNKI |
语种 | 中文 |
公开日期 | 2012-05-30 |
源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/8755] ![]() |
专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2004-2010年 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 李长兴,谷鸣,陈志豪,等. 脉冲调制器机柜屏蔽效能分析测试[J]. 核技术,2007(02). |
APA | 李长兴,谷鸣,陈志豪,袁启兵,&范学荣.(2007).脉冲调制器机柜屏蔽效能分析测试.核技术(02). |
MLA | 李长兴,et al."脉冲调制器机柜屏蔽效能分析测试".核技术 .02(2007). |
入库方式: OAI收割
来源:上海应用物理研究所
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