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脉冲调制器机柜屏蔽效能分析测试

文献类型:期刊论文

作者李长兴 ; 谷鸣 ; 陈志豪 ; 袁启兵 ; 范学荣
刊名核技术
出版日期2007-02-10
期号02
通讯作者李长兴
中文摘要高功率脉冲调制器是电子直线加速器(LINAC)的功率源,脉冲调制器在运行中会产生很强的电磁干扰。为了满足上海光源LINAC的高精度要求,脉冲调制器必须尽量抑制这些电磁干扰。本文介绍对上海光源150MeV高性能LINAC调制器的电磁辐射抑制的分析研究和测试。分析了电磁辐射的泄漏途径,对调制器机柜的屏蔽效能进行了定性、定量分析,并进行了测试。验证了调制器机柜的EMC设计制作对电磁干扰抑制的有效性。
收录类别CNKI
语种中文
公开日期2012-05-30
源URL[http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/8755]  
专题上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2004-2010年
推荐引用方式
GB/T 7714
李长兴,谷鸣,陈志豪,等. 脉冲调制器机柜屏蔽效能分析测试[J]. 核技术,2007(02).
APA 李长兴,谷鸣,陈志豪,袁启兵,&范学荣.(2007).脉冲调制器机柜屏蔽效能分析测试.核技术(02).
MLA 李长兴,et al."脉冲调制器机柜屏蔽效能分析测试".核技术 .02(2007).

入库方式: OAI收割

来源:上海应用物理研究所

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