上海光源储存环直流流强监测系统设计
文献类型：期刊论文
| 作者 | 冷用斌 ; 周伟民 ; 陈永忠 ; 赵国璧 ; 余俊 ; 刘德康 |
| 刊名 | 核技术
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| 出版日期 | 2007-06-10 |
| 期号 | 06 |
| 通讯作者 | 冷用斌 |
| 中文摘要 | 上海光源储存环调试运行需要一个分辨率达到微安量级的直流流强监测系统。为此设计完成的硬件系统包含一个Bergoz公司NPCT型探头、一个NI公司PXI总线数字电压表模块以及一个PXI总线的输入输出控制器。数据采集处理软件在LabVIEW平台上开发,与控制系统的接口通过EPICS Shared Memory IOC core技术实现。实验室测试及仿真结果表明该系统直流流强测量分辨率可达2微安,束流寿命相对测量精度可望达到0.5%。 |
| 收录类别 | CNKI |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-05-30 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/8770]  |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2004-2010年 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 冷用斌,周伟民,陈永忠,等. 上海光源储存环直流流强监测系统设计[J]. 核技术,2007(06). |
| APA | 冷用斌,周伟民,陈永忠,赵国璧,余俊,&刘德康.(2007).上海光源储存环直流流强监测系统设计.核技术(06). |
| MLA | 冷用斌,et al."上海光源储存环直流流强监测系统设计".核技术 .06(2007). |
入库方式： OAI收割
来源：上海应用物理研究所
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