基于LabVIEW的数字化电源高精密DCCT稳定性测试系统
文献类型：期刊论文
| 作者 | 唐俊龙 ; 李德明 ; 刘洪 ; 柯新花 |
| 刊名 | 核电子学与探测技术
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| 出版日期 | 2008-07-20 |
| 期号 | 04 |
| 关键词 | LabVIEW 数字化电源 DCCT 测试 稳定性 |
| 通讯作者 | 唐俊龙 |
| 中文摘要 | 利用LabVIEW开发平台建立了一套可靠、有效的SSRF数字电源中高精密DCCT(DC cur-rent transducer)的稳定性测试系统,包括硬件与软件设计。通过串口(RS232)与GPIB接口进行通讯,友好、清晰的人机界面能够方便地实现数字电源DCCT稳定性测控,并显示即时的稳定性,同时工控机实现数字电源高精密DCCT长期稳定性测试的数据记录与保存。Excel格式数据存储通过该软件完成,不仅可以得出稳定性数值与曲线图,还可以为以后进一步分析做准备。 |
| 收录类别 | CNKI |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-06-06 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/8960]  |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2004-2010年 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 唐俊龙,李德明,刘洪,等. 基于LabVIEW的数字化电源高精密DCCT稳定性测试系统[J]. 核电子学与探测技术,2008(04). |
| APA | 唐俊龙,李德明,刘洪,&柯新花.(2008).基于LabVIEW的数字化电源高精密DCCT稳定性测试系统.核电子学与探测技术(04). |
| MLA | 唐俊龙,et al."基于LabVIEW的数字化电源高精密DCCT稳定性测试系统".核电子学与探测技术 .04(2008). |
入库方式： OAI收割
来源：上海应用物理研究所
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