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SSRF定时系统硬件温漂性能测试

文献类型:期刊论文

作者赵黎颖 ; 殷重先 ; 刘德康
刊名核技术
出版日期2008-02-10
期号02
关键词长期温漂 相位 算法 通用总线接口 定时系统
通讯作者赵黎颖
中文摘要介绍一种利用相移检测硬件温漂性能的测试平台,系统阐述了硬件构架并详细推导了软件算法,具有硬件构建简单、软件算法清晰、检测精度高和通用性广等特点。文章给出了利用该平台测试上海同步辐射光源(Shanghai Synchrotron Radiation Facility,SSRF)定时系统硬件温漂性能的结果。
收录类别CNKI
语种中文
公开日期2012-06-06
源URL[http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/9038]  
专题上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2004-2010年
推荐引用方式
GB/T 7714
赵黎颖,殷重先,刘德康. SSRF定时系统硬件温漂性能测试[J]. 核技术,2008(02).
APA 赵黎颖,殷重先,&刘德康.(2008).SSRF定时系统硬件温漂性能测试.核技术(02).
MLA 赵黎颖,et al."SSRF定时系统硬件温漂性能测试".核技术 .02(2008).

入库方式: OAI收割

来源:上海应用物理研究所

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