一种实用的高精度ADC测试方法
文献类型：期刊论文
| 作者 | 柯新花 ; 卢宋林 ; 许瑞年 ; 许升辉 ; 李瑞 ; 沈天健 |
| 刊名 | 核技术
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| 出版日期 | 2008-05-10 |
| 期号 | 05 |
| 关键词 | 高精度ADC 数字信号处理器 有效位数 积分线性度 |
| 通讯作者 | 柯新花 |
| 中文摘要 | 模数转换器(Analog-to-Digital Converter,ADC)是模拟数字混合信号系统中的重要模块,是电子器件中的关键器件。随着ADC速度和精度的提高,如何高效、准确地测试其动态和静态参数是ADC测试研究的重点。本文阐述在缺少现成的标准输入信号源情况下进行高精度ADC线性度和分辨率的测试,实现低成本、高可靠性的高精度ADC计算机辅助测试的方法。该方法在几类AD转换卡(数据采集卡)上进行了验证。 |
| 收录类别 | CNKI |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-06-06 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/9110]  |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2004-2010年 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 柯新花,卢宋林,许瑞年,等. 一种实用的高精度ADC测试方法[J]. 核技术,2008(05). |
| APA | 柯新花,卢宋林,许瑞年,许升辉,李瑞,&沈天健.(2008).一种实用的高精度ADC测试方法.核技术(05). |
| MLA | 柯新花,et al."一种实用的高精度ADC测试方法".核技术 .05(2008). |
入库方式： OAI收割
来源：上海应用物理研究所
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