Structural analysis of Ti(50)Ni(44)Fe(6) single crystal by X-ray fluorescence holography
文献类型：会议论文
| 作者 | Hu, W（胡雯） ; Hayashi, K ; Happo, N ; Hosokawa, S ; Terai, T ; Fukuda, T ; Kakeshita, T ; Xie, HL ; Xiao, TQ（（肖体乔） |
| 出版日期 | 2009 |
| 会议名称 | 4th Asian Conference on Crystal Growth and Crystal Technology |
| 会议日期 | MAY 21-24, 2008 |
| 会议地点 | Sendai, JAPAN |
| 页码 | 982 |
| 收录类别 | SCI |
| 会议录 | JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH
 |
| 语种 | 英语 |
| ISSN号 | 0022-0248 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/8901]  |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2004-2010年 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Hu, W,Hayashi, K,Happo, N,et al. Structural analysis of Ti(50)Ni(44)Fe(6) single crystal by X-ray fluorescence holography[C]. 见:4th Asian Conference on Crystal Growth and Crystal Technology. Sendai, JAPAN. MAY 21-24, 2008. |
入库方式： OAI收割
来源：上海应用物理研究所
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