辐照聚乙烯的电子显微镜与X射线小角散射的研究
文献类型：会议论文
| 作者 | 王国英 ; 姜炳政 ; 张皓瑜 |
| 出版日期 | 1988 |
| 会议名称 | 第五次全国电子显微学会议 |
| 会议日期 | 1988-10 |
| 会议地点 | 中国湖北武汉 |
| 关键词 | 辐照前 小角散射 片晶 破坏机理 相关函数 电子密度 散射强度 电子显微镜 辐照剂量 非晶态 |
| 页码 | 265-265 |
| 中文摘要 | 通常,人们认为辐照对熔融结晶聚乙烯片晶的破坏是按片晶表面破坏机理进行的,即在辐照中片晶表面链折迭交联处首先被破坏,随着辐照剂量的增加破坏逐渐向片晶内部延伸,当辐照剂量足够大时,片晶全部被破坏为非晶态。根据X射线广角衍射和小角散射强度积分不变量的考察,我们提出了片晶的辐照破坏主要发生在内部即片晶内部破坏机理。为了进一步论证上述观点,我们用电子显微镜进行了直观的考证,并用部分结晶聚合物的一维电子密度相关函数进行了对比分析,进一步证明了片晶内部破坏机理的可靠性。 |
| 收录类别 | CSCD收录国内期刊论文 |
| 会议主办者 | 中国电子显微镜学会 |
| 会议录 | 第五次全国电子显微学会议论文摘要集
 |
| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://ir.ciac.jl.cn/handle/322003/47724]  |
| 专题 | 长春应用化学研究所_长春应用化学研究所知识产出_会议论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王国英,姜炳政,张皓瑜. 辐照聚乙烯的电子显微镜与X射线小角散射的研究[C]. 见:第五次全国电子显微学会议. 中国湖北武汉. 1988-10. |
入库方式： OAI收割
来源：长春应用化学研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。