基于原子力显微镜抬高模式的DNA分子高度测量
文献类型：期刊论文
| 作者 | 郭云昌,周星飞,孙洁林,李民乾,胡钧 |
| 刊名 | 科学通报
 |
| 出版日期 | 2004-08-15 |
| 期号 | 15 |
| 关键词 | 抬高模式 原子力显微镜 抬高扫描高度 弹性形变 高度测量 |
| 通讯作者 | 郭云昌 |
| 中文摘要 | 在传统的轻敲模式原子力显微镜基础上利用抬高模式对DNA分子的高度进行了测量研究. 通过不断抬高针尖高度, 逐步减小针尖对样品的作用力, 以测量软样品的形变量, 并通过记录针尖的抬高高度来计算DNA分子的高度. 实验中利用抬高模式测得的DNA分子高度为1.5±0.2 nm, 而传统轻敲模式下测得的DNA分子的高度为0.8±0.2 nm, 表明针尖对DNA的作用力是导致传统轻敲模式测得DNA分子高度较低的重要因素. 同时本文采取的方法也适用于测量其他软样品的高度. |
| 收录类别 | CNKI |
| 公开日期 | 2012-07-04 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/9316]  |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2004-2010年 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 郭云昌,周星飞,孙洁林,李民乾,胡钧. 基于原子力显微镜抬高模式的DNA分子高度测量[J]. 科学通报,2004(15). |
| APA | 郭云昌,周星飞,孙洁林,李民乾,胡钧.(2004).基于原子力显微镜抬高模式的DNA分子高度测量.科学通报(15). |
| MLA | 郭云昌,周星飞,孙洁林,李民乾,胡钧."基于原子力显微镜抬高模式的DNA分子高度测量".科学通报 .15(2004). |
入库方式： OAI收割
来源：上海应用物理研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。