裂解温度对CVD法制备多壁碳纳米管的影响
文献类型：期刊论文
| 作者 | 陆荣荣,吴永庆,朱德彰,巩金龙,李玉兰,王森,何绥霞,俞国军,陈一,胡岗,吴晓京 |
| 刊名 | 光散射学报
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| 出版日期 | 2004-09-30 |
| 期号 | 03 |
| 关键词 | 多壁碳纳米管 扫描电子显微镜 透射电子显微镜 拉曼光谱 |
| 通讯作者 | 陆荣荣 |
| 中文摘要 | 用SEM、TEM、HRTEM及拉曼光谱方法研究了催化裂解乙炔制备多壁碳纳米管过程中裂解温度的影响,结果表明,在650℃～700℃裂解乙炔,可获得产量高、直径分布均匀、石墨程度高的多壁碳纳米管,并对裂解温度影响机制进行了分析和探讨。 |
| 收录类别 | CNKI |
| 公开日期 | 2012-07-04 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/9329]  |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2004-2010年 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陆荣荣,吴永庆,朱德彰,巩金龙,李玉兰,王森,何绥霞,俞国军,陈一,胡岗,吴晓京. 裂解温度对CVD法制备多壁碳纳米管的影响[J]. 光散射学报,2004(03). |
| APA | 陆荣荣,吴永庆,朱德彰,巩金龙,李玉兰,王森,何绥霞,俞国军,陈一,胡岗,吴晓京.(2004).裂解温度对CVD法制备多壁碳纳米管的影响.光散射学报(03). |
| MLA | 陆荣荣,吴永庆,朱德彰,巩金龙,李玉兰,王森,何绥霞,俞国军,陈一,胡岗,吴晓京."裂解温度对CVD法制备多壁碳纳米管的影响".光散射学报 .03(2004). |
入库方式： OAI收割
来源：上海应用物理研究所
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