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同位素示踪法在碳纳米管填充释放行为研究中的应用

文献类型:期刊论文

作者吴胜伟,刘士远,郭金学,李燕,李玉兰,李文新
刊名核化学与放射化学
出版日期2004-11-20
期号04
关键词碳纳米管 填充 释放 同位素示踪技术
通讯作者吴胜伟
中文摘要应用同位素示踪技术,以110Agm AgNO3溶液填充、NaNO3或HNO3溶液洗涤氧化开口后的碳纳米管(CNTs),研究了填充物110Agm AgNO3在水溶液中从碳纳米管中的释放情况;用高分辨透射电镜(HREM)、扫描电镜(SEM)、X射线衍射(XRD)、X射线能量色散谱(EDS)对CNTs的填充情况进行了表征;根据放射分析测量结果计算了CNTs腔内部样品的填充量。结果表明,CNTs腔内有银材料填充并且在水溶液中不会释放出来;示踪技术能有效地应用于CNTs的填充、释放等行为的研究及材料填充量的定量测定。
收录类别CNKI
公开日期2012-07-04
源URL[http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/9349]  
专题上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2004-2010年
推荐引用方式
GB/T 7714
吴胜伟,刘士远,郭金学,李燕,李玉兰,李文新. 同位素示踪法在碳纳米管填充释放行为研究中的应用[J]. 核化学与放射化学,2004(04).
APA 吴胜伟,刘士远,郭金学,李燕,李玉兰,李文新.(2004).同位素示踪法在碳纳米管填充释放行为研究中的应用.核化学与放射化学(04).
MLA 吴胜伟,刘士远,郭金学,李燕,李玉兰,李文新."同位素示踪法在碳纳米管填充释放行为研究中的应用".核化学与放射化学 .04(2004).

入库方式: OAI收割

来源:上海应用物理研究所

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