扫描样品无损检测多极激励场发生装置
文献类型：专利
| 作者 | 任育峰 ; 孔祥燕 ; 杨乾声 ; 杨国桢 ; 陈赓华 |
| 发表日期 | 2007-04-11 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | CN2888445 |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院物理研究所 |
| 中文摘要 | 本实用新型公开了一种扫描样品无损检测多极激励场发生装置,激励线圈的磁芯采用4片具有高磁导率的坡莫合金(1J85)叶片对接制成,每只叶片为U型,夹角为90°,所述叶片包括底边、竖边和横边,底边和竖边相互垂直,横边与竖边的夹角为120°～160°,4片横边的顶端之间间隔适当距离;所述叶片之间相互绝缘,叶片的底边和竖边上缠绕有漆包线,相邻两个叶片的上的漆包线缠绕方向相反。本实用新型采用四极激发线圈代替双D型线圈,能够测量较深的缺陷,并且还具有如下优点:①场随空间衰减更快,所以噪声小;②在SQUID器件处更易平衡 |
| 是否PCT专利 | 是 |
| 公开日期 | 2007-04-11 ; 2007-04-11 |
| 申请日期 | 2005-11-23 |
| 专利申请号 | 200520142119.9 |
| 专利代理 | 尹振启 |
| 源URL | [http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/109119]  |
| 专题 | 上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_专利 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 任育峰,孔祥燕,杨乾声,等. 扫描样品无损检测多极激励场发生装置. CN2888445. 2007-04-11. |
入库方式： OAI收割
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