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高温DC SQUID在无损检测中的应用

文献类型:期刊论文

作者孔祥燕 ; 任育峰 ; 于洪伟 ; 陈赓华 ; 张利华 ; 杨乾
刊名低温物理学报
出版日期2005
期号S1
关键词SQUID 激励场 无损检测
ISSN号1000-3258
中文摘要成功制备了用于无损检测的YBCO垫圈型DC SQUID,利用该器件建立了一套扫描SQUID显微镜无损检测装置,采用多极激励场的结构,引入高阶梯度,提高敏感元件-高温SQUID的平衡度,以及减小激励场的空间尺度来提高探测元件无损检测的灵敏度,利用该装置对圆孔缺陷的铝材料样品施加电磁激励并进行了二维磁场扫描成像,获得了较好的实验结果.
公开日期2012-07-05
源URL[http://ir.sim.ac.cn/handle/331004/109115]  
专题上海微系统与信息技术研究所_中文期刊、会议、专利、成果_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
孔祥燕,任育峰,于洪伟,等. 高温DC SQUID在无损检测中的应用[J]. 低温物理学报,2005(S1).
APA 孔祥燕,任育峰,于洪伟,陈赓华,张利华,&杨乾.(2005).高温DC SQUID在无损检测中的应用.低温物理学报(S1).
MLA 孔祥燕,et al."高温DC SQUID在无损检测中的应用".低温物理学报 .S1(2005).

入库方式: OAI收割

来源:上海微系统与信息技术研究所

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