采用紫外或深紫外激光源的高空间分辨光发射电子显微镜
文献类型:专利
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作者 | 傅强 ; 金立 ; 谭大力 ; 慕仁涛 ; 包信和 |
发表日期 | 2011 |
专利国别 | 中文 |
专利号 | CN201010567093.8 |
专利类型 | 发明 |
关键词 | 物理化学 |
权利人 | 中国科学院大连化学物理研究所 |
是否PCT专利 | 待填写 |
中文摘要 | 本发明涉及采用紫外或深紫外激光源的高空间分辨光发射电子显微镜,包括紫外或深紫外激光器、光发射电子显微镜PEEM,紫外或深紫外激光器发射的激光光路垂直入射到PEEM的样品台。在于将能量高于5eV的固定波长或连续波长的(深)紫外激光施用于光发射电子显微镜;通过激光与PEEM连接系统将激光以一种独特的垂直入射样品表面的方式激发固体表面光电子;采用电子光学系统将表面光发射电子成像从而获得表面图像信息;应用深紫外激光研究固体表面上的动态过程,包括表面化学反应和表面生长过程,实现表面动态过程的高空间分辨、原位实时的研究和观察。 |
学科主题 | 物理化学 |
公开日期 | 2012-05-30 |
申请日期 | 2010-11-30 |
语种 | 中文 |
资助信息 | 中国科学院大连化学物理研究所;辽宁石油化工大学 |
专利证书号 | 待填写 |
专利申请号 | CN201010567093.8 |
专利代理 | 马驰 |
源URL | [http://159.226.238.44/handle/321008/116414] |
专题 | 大连化学物理研究所_中国科学院大连化学物理研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 傅强,金立,谭大力,等. 采用紫外或深紫外激光源的高空间分辨光发射电子显微镜, 采用紫外或深紫外激光源的高空间分辨光发射电子显微镜. CN201010567093.8. 2011-01-01. |
入库方式: OAI收割
来源:大连化学物理研究所
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