薄膜辐射热探测器
文献类型：期刊论文
| 作者 | 张敏 ; 竺乃宜; 李连祥; 崔季平
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| 刊名 | 力学学报
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| 出版日期 | 1978 |
| 期号 | 3页码:230-233 |
| 通讯作者邮箱 | zny@imech.ac.cn |
| 关键词 | 辐射热探测器 玻璃基片 力学研究所 中国科学院 吸收率 金膜 辐射热测量 分光光度计 反射率 |
| ISSN号 | 0459-1879 |
| 通讯作者 | 竺乃宜 |
| 中文摘要 | <正> 薄膜辐射热探测器是一种结构简单,灵敏度高,响应快速的辐射热测量元件,特别适用于短时间超声速设备中的辐射测量,也可以在辐射能的标定中使用。这种探测器是在通常薄膜电阻温度计的表面上覆盖一层碳黑类物质,以增加它的吸收率和扩大吸收谱的宽度,且减少吸收率随波长的变化。 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2009-08-03 ; 2010-08-20 |
| 源URL | [http://dspace.imech.ac.cn/handle/311007/38732]  |
| 专题 | 力学研究所_力学所知识产出(1956-2008) |
| 通讯作者 | 竺乃宜 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张敏,竺乃宜,李连祥,等. 薄膜辐射热探测器[J]. 力学学报,1978(3):230-233. |
| APA | 张敏,竺乃宜,李连祥,&崔季平.(1978).薄膜辐射热探测器.力学学报(3),230-233. |
| MLA | 张敏,et al."薄膜辐射热探测器".力学学报 .3(1978):230-233. |
入库方式： OAI收割
来源：力学研究所
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