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薄膜辐射热探测器

文献类型:期刊论文

作者张敏; 竺乃宜; 李连祥; 崔季平
刊名力学学报
出版日期1978
期号3页码:230-233
通讯作者邮箱zny@imech.ac.cn
关键词辐射热探测器 玻璃基片 力学研究所 中国科学院 吸收率 金膜 辐射热测量 分光光度计 反射率
ISSN号0459-1879
通讯作者竺乃宜
中文摘要<正> 薄膜辐射热探测器是一种结构简单,灵敏度高,响应快速的辐射热测量元件,特别适用于短时间超声速设备中的辐射测量,也可以在辐射能的标定中使用。这种探测器是在通常薄膜电阻温度计的表面上覆盖一层碳黑类物质,以增加它的吸收率和扩大吸收谱的宽度,且减少吸收率随波长的变化。
语种中文
公开日期2009-08-03 ; 2010-08-20
源URL[http://dspace.imech.ac.cn/handle/311007/38732]  
专题力学研究所_力学所知识产出(1956-2008)
通讯作者竺乃宜
推荐引用方式
GB/T 7714
张敏,竺乃宜,李连祥,等. 薄膜辐射热探测器[J]. 力学学报,1978(3):230-233.
APA 张敏,竺乃宜,李连祥,&崔季平.(1978).薄膜辐射热探测器.力学学报(3),230-233.
MLA 张敏,et al."薄膜辐射热探测器".力学学报 .3(1978):230-233.

入库方式: OAI收割

来源:力学研究所

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