同步辐射双晶单色器平行度测量方法研究
文献类型：学位论文
| 作者 | 刘石磊 |
| 学位类别 | 硕士 |
| 答辩日期 | 2011-05 |
| 授予单位 | 中国科学院研究生院 |
| 导师 | 王纳秀 |
| 关键词 | 双晶单色器 平行度 自准直仪 光笔干涉法 |
| 学位专业 | 光学工程 |
| 中文摘要 | 本文主要是针对上海光源（SSRF）光束线建设和自主研制晶体单色器需要进行双晶晶体表面（晶面）平行度离线测量的需求，在Jun Lim 和 Seungyu Rah 等人提出的光笔干涉仪法原理基础进行了改进，用十字位相板取代盖玻片，并开展原理性实验研究。通过探测光与参考光的干涉图样在CCD 上面是否重合来判断双晶是否达到平行，从而在实验上验证了十字位相板光笔干涉仪法测量双晶晶体表面平行度的可行性。 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-08-15 |
| 分类号 | TH741.8 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/9650]  |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2011-2017年 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘石磊. 同步辐射双晶单色器平行度测量方法研究[D]. 中国科学院研究生院. 2011. |
入库方式： OAI收割
来源：上海应用物理研究所
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