高精度光学式同步辐射X射线光斑测量系统
文献类型：学位论文
| 作者 | 杜鹏 |
| 学位类别 | 硕士 |
| 答辩日期 | 2012-05 |
| 授予单位 | 中国科学院研究生院 |
| 导师 | 黎忠 |
| 关键词 | X射线位置测量系统 光学式 EPICS 图像处理 |
| 学位专业 | 信号与信息处理 |
| 中文摘要 | 在同步辐射光源中，X光束位置对储存环调束、提高光束稳定性、进行光束线的调试和利用光束线站开展实验研究是个非常重要的参数。上海光源（SSRF）一期工程研发了刀片、丝扫描等光电式X射线位置探测器（X-ray Beam Position Monitor，XBPM）和荧光靶探测器。其中刀片式BPM是利用X射线打在一对或两对对称的刀片上产生的光电流之比间接推导出光束的中心位置和位置变化，是一种相对测量，不能真正测量出光斑的中心位置，也不能测量光斑的形状；丝扫描BPM受形状不稳定性影响较大，扫描速度满足不了实时性较高的系统要求；荧光靶探测器使用了CVD金刚石荧光靶和高灵敏度黑白视频摄像头，能够实时快速地给出光斑的位置信息，但是不具备数字化功能，不能给出光斑强度分布和稳定性等信息。因此针对目前上海光源光束线对XBPM的要求，研发基于光学测量方法的高精度X射线光斑测量系统，测定光束的尺寸和位置信息，分辨率可达微米量级，具有高精度、全光斑信息、抗干扰能力强和实时性的优点。 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2012-08-15 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/9704]  |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2011-2017年 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 杜鹏. 高精度光学式同步辐射X射线光斑测量系统[D]. 中国科学院研究生院. 2012. |
入库方式： OAI收割
来源：上海应用物理研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。