一种综合测量液晶器件参数的装置及方法 (发明)
文献类型：专利
| 作者 | 于涛
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| 发表日期 | 2004-08-25 |
| 专利类型 | 发明专利 |
| 权利人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 中文摘要 | 本发明涉及一种对测量液晶器件参数装置及方法的改进。它包括光源、起偏器、样品、转台、补偿器、检偏器、镜头、探测器、计算机和液晶驱动装置。根据液晶折射率和指向矢分布，用理论值和测量值迭代拟合得到液晶层厚度、预倾角和扭曲角。本发明打破现有技术只能偏振光测量、只能非偏振光测量、只能单色光测量、只能白光测量和入射角单一的局限，扩…… |
| 公开日期 | 2004-08-25 |
| 专利申请号 | 110180.3 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/11090]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 于涛. 一种综合测量液晶器件参数的装置及方法 (发明). 2004-08-25. |
入库方式： OAI收割
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