对电校准绝对辐射计进行温度补偿的光辐照度测量方法 (发明)
文献类型：专利
| 作者 | 方伟 ; 王玉鹏
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| 发表日期 | 2008-10-22 |
| 专利类型 | 发明专利 |
| 权利人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 中文摘要 | 本发明涉及对电校准绝对辐射计进行温度补偿的光辐照度测量方法。关闭快门，在接收器件的第一电加热丝和参考器件的第二电加热丝分别加入电功率Ｐｅ↓［１］，使接收器件和参考器件的温度始终相同并恒定；打开快门，当有光入射绝对辐射计，使第一电加热丝所加电功率由Ｐｅ↓［１］减少到Ｐｅ↓［２］，使温度传感器电路输出数值与关闭快门时温度传…… |
| 公开日期 | 2008-10-22 |
| 专利申请号 | 200510016667.1 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/11125]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 方伟,王玉鹏. 对电校准绝对辐射计进行温度补偿的光辐照度测量方法 (发明). 2008-10-22. |
入库方式： OAI收割
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