用绝对辐射计快速测量光功率的方法 (发明)
文献类型：专利
| 作者 | 方伟
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| 发表日期 | 2004-09-29 |
| 专利类型 | 发明专利 |
| 权利人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 中文摘要 | 本发明涉及用绝对辐射计快速测量光功率的方法：在接收器件上加低、高电功率Ｐ↓［Ｌ］、Ｐ↓［Ｈ］，温度传感器的电压输出值为Ｔ↓［Ｌ］和Ｔ↓［Ｈ］；求出响应度Ｓ和时间常数τ；一直维持加高电功率Ｐ↓［Ｈ］，使输出维持在Ｔ↓［Ｈ］；光辐射功率Ｐ↓［ｓ］进入，停止加高电功率Ｐ↓［Ｈ］，由输出下降阶段前几秒的任意时刻ｔ↓［ｊ］和ｔ↓…… |
| 公开日期 | 2012-08-29 |
| 专利申请号 | 3111307.9 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/11142]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 方伟. 用绝对辐射计快速测量光功率的方法 (发明). 2004-09-29. |
入库方式： OAI收割
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