测量液晶器件扭曲角和光延迟的装置和方法 (发明)
文献类型：专利
| 作者 | 张航 ; 于涛
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| 发表日期 | 2008-04-30 |
| 专利类型 | 发明专利 |
| 权利人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 中文摘要 | 本发明属于光电子学和测量技术领域，是一种测量液晶器件扭曲角和光延迟的装置和方法。本发明的装置，包括：双频塞曼激光器，λ／４波片，分束器，检偏器，光电探测器，信号处理部分。测试时，以光轴为轴转动被测液晶器件４，当被测液晶器件的转角为０度、６０度和１８０度时，记录信号处理部分９得到的相位差Ψ↓［１］、Ψ↓［２］和Ψ↓［３］…… |
| 公开日期 | 2012-08-29 |
| 专利申请号 | 200610131610 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/11269]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张航,于涛. 测量液晶器件扭曲角和光延迟的装置和方法 (发明). 2008-04-30. |
入库方式： OAI收割
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