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一种自动测量电接口静态特性的方法 (发明)

文献类型:专利

作者贺庚贤 ; 宁飞 ; 蔚素升 ; 胡剑虹
发表日期2012-06-13
专利类型发明专利
权利人中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
中文摘要一种自动测量电接口静态特性的方法,属于电子测量技术领域中涉及的一种方法。要解决的技术问题是:提供一种自动测量电接口静态特性的方法。解决的技术方案是:首先,建立自动测量系统;包括计算机,PCIe接口卡,处理器,多路复用开关,电连接器,终端模块,万用表卡,转接线路板,扁平电缆连接器和测量连接器;该测量系统通过测量电缆与被测……
公开日期2012-06-13
专利申请号200910217805.0
源URL[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/11702]  
专题长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式
GB/T 7714
贺庚贤,宁飞,蔚素升,等. 一种自动测量电接口静态特性的方法 (发明). 2012-06-13.

入库方式: OAI收割

来源:长春光学精密机械与物理研究所

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