深凹曲面上导电网格相对电阻接触测量头及其测量方法 (发明)
文献类型：专利
| 作者 | 高劲松 ; 赵晶丽; 冯晓国
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| 发表日期 | 2012-07-25 |
| 专利类型 | 发明专利 |
| 权利人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 中文摘要 | 深凹曲面上导电网格相对电阻接触测量头及其测量方法。属于深凹曲面上测量金属网栅膜的相对电阻的测量工具和方法。电阻接触测量头的结构及连接关系：电极安装在卡簧上，支撑卡簧通过压簧调节接触应力的滑杆，外套为电极和滑杆提供支撑和运动导向，绝缘柱支撑压簧，由连杆将电阻接触测量头和与外机构连接。测量头做两套并通过连杆连接成一分规形式…… |
| 公开日期 | 2012-07-25 |
| 专利申请号 | 201010144774.3 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/11743]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 高劲松,赵晶丽,冯晓国. 深凹曲面上导电网格相对电阻接触测量头及其测量方法 (发明). 2012-07-25. |
入库方式： OAI收割
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