一种凹面光栅衍射效率的测试方法 (发明)
文献类型：专利
| 作者 | 巴音贺希格 ; 寇婕婷 ; 吴娜 ; 于宏柱 ; 唐玉国 ; 齐向东 |
| 发表日期 | 2012-04-11 |
| 专利类型 | 发明专利 |
| 权利人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 中文摘要 | 一种凹面光栅衍射效率测试方法，属于光谱技术领域中涉及的一种光栅衍射效率测试方法。要解决的技术问题是：提供一种凹面光栅衍射效率测试方法。解决技术问题的技术方案是：包括步骤一，配备一套可进行凹面光栅衍射效率测量的装置和测量控制系统；步骤二，准备被测凹面光栅和标准凹面反射镜；步骤三，测量标准凹面反射镜的反射光通量；步骤四，测…… |
| 公开日期 | 2012-04-11 |
| 专利申请号 | 201010277313.3 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/11830]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 巴音贺希格,寇婕婷,吴娜,等. 一种凹面光栅衍射效率的测试方法 (发明). 2012-04-11. |
入库方式： OAI收割
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