一种多片面阵ＣＣＤ的筛选测试系统 (发明)
文献类型：专利
| 作者 | 余达; 吕世良 ; 赵莹; 余达; 刘金国; 孔德柱
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| 发表日期 | 2012-06-13 |
| 专利类型 | 发明专利 |
| 权利人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 中文摘要 | 一种多片面阵ＣＣＤ的筛选测试系统，涉及多片面阵ＣＣＤ的筛选测试系统，它解决现有面阵ＣＣＤ在温度循环和功率老化筛选测试时，存在面阵ＣＣＤ连续工作、试验周期较长的问题，本系统在摄像期间将各片面阵ＣＣＤ图像数据以每四片为单位进行图像数据的整合，使输入的数据通道数降为原来的芯片数的１／４，再并行存储到ＳＤＲＡＭ阵列，摄像结束后…… |
| 公开日期 | 2012-08-29 |
| 专利申请号 | 201110409076.6 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/12123]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 余达,吕世良,赵莹,等. 一种多片面阵ＣＣＤ的筛选测试系统 (发明). 2012-06-13. |
入库方式： OAI收割
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