线位移测量方法及测量装置 (发明)
文献类型:专利
作者 | 孙强![]() ![]() |
发表日期 | 2012-08-01 |
专利类型 | 发明专利 |
权利人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
中文摘要 | 本发明涉及一种线位移测量方法及测量装置;所述方法包括下列步骤:分别采集并记录发光单元光功率密度为I1、I2时光电接收单元各个像元输出的灰度响应值,计算所有像元灰度响应值的算术平均值;计算出各个像元的灵敏度校正因子和偏移量校正因子,并将其固化于测量装置的光电信号非均匀性校正因子存储单元。所述测量装置的发光单元产生的平行光…… |
公开日期 | 2012-08-29 |
专利申请号 | 201210088474.7 |
源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/12243] ![]() |
专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 孙强,卢振武. 线位移测量方法及测量装置 (发明). 2012-08-01. |
入库方式: OAI收割
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