移位测量装置 (发明)
文献类型：专利
| 作者 | 孙强
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| 发表日期 | 2012-08-01 |
| 专利类型 | 发明专利 |
| 权利人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 中文摘要 | 移位测量装置，涉及一种移位测量装置，为进一步提高信号的平均作用，需要在同样的探测单元数量的情况下，包含更多的探测周期，尽量在设计体积要求更小，或者光源的光斑所占的面积较小等制约下提高信号质量，包括标准光栅和光电读数头，光电读数头包括光源、指示光栅、光电接收单元和信号处理电路。光电接收单元由多个探测单元组成，多个探测单元…… |
| 公开日期 | 2012-08-29 |
| 专利申请号 | 201210088557.6 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/12244]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 孙强. 移位测量装置 (发明). 2012-08-01. |
入库方式： OAI收割
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