测量高反射率的方法和装置 （发明）
文献类型：专利
| 作者 | 王占青 ; 陈奋飞 ; 周秀良 |
| 发表日期 | 1990-08-15 |
| 专利号 | 1006089 |
| 专利类型 | 发明专利 |
| 权利人 | 中国科学院长春光学精密机械研究所 |
| 中文摘要 | 本发明是在光谱光度计上加对称谐振腔多次反射装置测量镜面高反射率的方法和装置．对称谐振腔放在可定位转动１８０°的圆盘上．高反射率是通过公式Ｒ＝４ＮＥ－［２］Ｅ－［４］／Ｅ－［１］Ｅ－［２］求得．本方法对样品放置精度要求不高．测量高反射率最佳方案可采用对称双光路结…… |
| 公开日期 | 1990-08-15 |
| 申请日期 | 1985-04-01 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | 85101719.3 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/12674]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王占青,陈奋飞,周秀良. 测量高反射率的方法和装置 （发明）. 1006089. 1990-08-15. |
入库方式： OAI收割
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