一种双标准尺比长仪 （实用新型）
文献类型：专利
| 作者 | 董德水 ; 李松泽 ; 周浩 |
| 发表日期 | 1999-11-17 |
| 专利号 | 2349532 |
| 专利类型 | 实用新型 |
| 权利人 | 中国科学院长春光学精密机械研究所 |
| 中文摘要 | 一种双标准尺比长仪属于长度计量领域中的一种测量线位移传感器的长度计量装置。采用相同规格的两把标准尺平行对称置于被测线位移传感器两测结构，可消除阿贝误差带来的对测量结果的影响，能够分段滑动测量远比标准尺长度长得多的线位移传感器。具有很高的实用价值。 |
| 公开日期 | 1999-11-17 |
| 申请日期 | 1998-11-26 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | 98233410.9 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/12882]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 董德水,李松泽,周浩. 一种双标准尺比长仪 （实用新型）. 2349532. 1999-11-17. |
入库方式： OAI收割
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