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30_4nm正入射成像系统滤光片

文献类型:期刊论文

作者陈波; 何玲平; 王孝坤; 尼启良
刊名光学精密工程
出版日期2008-01-15
期号1
关键词EUV滤光片 线性吸收系数 反射比 透过率 单色仪
ISSN号1004-924X
中文摘要多层膜反射镜是30.4nm正入射望远镜的主要反射元件,但它在紫外、可见和近红外光波段也具有很高的反射率,需要滤光片来消除这些长波辐射,而滤光片材料和膜层厚度对滤光片的性能起重要作用。根据原子散射因子,理论计算出几种材料波长和线性吸收系数之间的关系,确认铝是30.4nm波段滤光片的最好材料。在考虑透过率和膜强度的基础上,确定了滤光片的膜层厚度。改进了现有的由Mcpherson247掠入射软X射线-真空紫外单色仪和气体空心阴极光源组成的光谱测量装置,使其适合于透过率的测量,其波长扫描精度为±0.017~±0.097nm,对所制备的铝滤光片进行25.6~1000nm波段的透过率测量,测量结果显示其在30.4nm处的透过率为58.85%。为了比较全面地反映该种滤光片的透过率情况,又测量了它在紫外、可见和近红外波段的透过率,其值接近零,证明了该滤光片可满足30.4nm成像系统的需要。
公开日期2012-09-25
源URL[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/21428]  
专题长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式
GB/T 7714
陈波,何玲平,王孝坤,等. 30_4nm正入射成像系统滤光片[J]. 光学精密工程,2008(1).
APA 陈波,何玲平,王孝坤,&尼启良.(2008).30_4nm正入射成像系统滤光片.光学精密工程(1).
MLA 陈波,et al."30_4nm正入射成像系统滤光片".光学精密工程 .1(2008).

入库方式: OAI收割

来源:长春光学精密机械与物理研究所

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