PDP荧光粉的相对亮度与VUV激发光谱的测量
文献类型：期刊论文
| 作者 | 王淑荣
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| 刊名 | 光学精密工程
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| 出版日期 | 2008-01-15 |
| 期号 | 1 |
| 关键词 | 平板等离子体显示 荧光粉 相对亮度 VUV激发光谱 |
| ISSN号 | 1004-924X |
| 中文摘要 | 在自行研制的测试仪器的基础上,用增加激发光总量检测和荧光粉表面漫反射光检测,两者相减获得绝对吸收的方法改善荧光粉在120~300nm紫外-真空波段的相对量子效率测量精度。总量检测通过一块漫反射板标定实现,给出了标定和测量过程。改进后相对量子效率测量误差减小到1%以内,同时利用该方法获得了较为精细的激发光谱曲线,光谱分辨率达到1nm。对BaMgAl10O17:Eu蓝色荧光粉和LaPO4:Tb、LaPO4:CeTb以及YPO4:Tb三种绿色荧光粉激发光谱进行了测量。 |
| 公开日期 | 2012-09-25 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/21431]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王淑荣. PDP荧光粉的相对亮度与VUV激发光谱的测量[J]. 光学精密工程,2008(1). |
| APA | 王淑荣.(2008).PDP荧光粉的相对亮度与VUV激发光谱的测量.光学精密工程(1). |
| MLA | 王淑荣."PDP荧光粉的相对亮度与VUV激发光谱的测量".光学精密工程 .1(2008). |
入库方式： OAI收割
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