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反射光学系统杂散光的消除

文献类型:期刊论文

作者钟兴 ; 张雷 ; 金光
刊名红外与激光工程
出版日期2008-04-25
期号2
关键词R-C系统 杂散光 遮光罩 模拟测试
ISSN号1007-2276
中文摘要成像光学系统中的杂散光会引起像质模糊和对比度下降,在对像质要求较高,或被探测的光能量微弱的情况下,必须对杂散光进行消除。R-C(Ritchey-Chretien)系统是卡塞格林系统的一种形式,在地面光电探测和空间对地观测等方面都有广泛应用。以焦距为2m,相对孔径为1/4的R-C系统为例,介绍了利用计算机仿真技术进行消杂散光设计和评价的原理,结合CAD建模进行了主镜内遮光罩、外遮光筒、次镜百叶窗式遮光罩的设计。使用光线模拟追迹软件TRACEPRO建立的测试系统进行仿真测试,得到R-C系统的杂光系数为6.4%,证明了设计的可行性,为应用和进一步的优化设计提供了依据。
公开日期2012-09-25
源URL[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/21603]  
专题长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式
GB/T 7714
钟兴,张雷,金光. 反射光学系统杂散光的消除[J]. 红外与激光工程,2008(2).
APA 钟兴,张雷,&金光.(2008).反射光学系统杂散光的消除.红外与激光工程(2).
MLA 钟兴,et al."反射光学系统杂散光的消除".红外与激光工程 .2(2008).

入库方式: OAI收割

来源:长春光学精密机械与物理研究所

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