光电成像系统的像面覆盖方法分析
文献类型：期刊论文
| 作者 | 翟林培 ; 丁亚林 |
| 刊名 | 光电技术应用
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| 出版日期 | 2009-06-22 |
| 卷号 | 3期号:30页码:448 |
| ISSN号 | 1763-1255 |
| 中文摘要 | 为了实现延时积分电荷耦合器件(TDI-CCD)在光电成像系统中的有效应用,在对现有光电成像系统像面覆盖方法分析的基础上,基于TDI-CCD的时间延时积分功能,提出了一种新的像面覆盖方法,并从理论上对新的像面覆盖方法进行了分析。通过与现有方法的对比,分析了新方法的特点,说明了该方法的可用性和实用性。 |
| 公开日期 | 2012-09-25 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/22120]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 翟林培,丁亚林. 光电成像系统的像面覆盖方法分析[J]. 光电技术应用,2009,3(30):448. |
| APA | 翟林培,&丁亚林.(2009).光电成像系统的像面覆盖方法分析.光电技术应用,3(30),448. |
| MLA | 翟林培,et al."光电成像系统的像面覆盖方法分析".光电技术应用 3.30(2009):448. |
入库方式： OAI收割
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