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SiO_2单层膜的反常色散研究

文献类型:期刊论文

作者申振峰; 王笑夷; 王彤彤; 高劲松
刊名光子学报
出版日期2009-08-15
期号8
关键词光学薄膜 反常色散 等效折射率 变折射率
ISSN号1004-4213
中文摘要利用等效折射率概念分析了SiO2单层膜反常色散出现的原因,并在1.1m镀膜机上证明了理论分析的合理性.结果表明,理论分析与实验结果一致,沿薄膜厚度方向折射率的对称周期变化使薄膜的等效折射率变化在可见光波段与致密膜层的变化不一致,表现出反常色散的现象.膜厚方向折射率变化周期越大,等效折射率随波长增加的趋势就越大,薄膜表现出的反常色散特性越明显.沿膜厚方向折射率变化幅度的对色散特性影响次之.
公开日期2012-09-25
源URL[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/22177]  
专题长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式
GB/T 7714
申振峰,王笑夷,王彤彤,等. SiO_2单层膜的反常色散研究[J]. 光子学报,2009(8).
APA 申振峰,王笑夷,王彤彤,&高劲松.(2009).SiO_2单层膜的反常色散研究.光子学报(8).
MLA 申振峰,et al."SiO_2单层膜的反常色散研究".光子学报 .8(2009).

入库方式: OAI收割

来源:长春光学精密机械与物理研究所

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