可见光面阵CCD响应非均匀性的检测与校正
文献类型:期刊论文
作者 | 李国宁![]() |
刊名 | 液晶与显示
![]() |
出版日期 | 2010-10-01 |
卷号 | 25期号:5页码:759-763 |
ISSN号 | 1007-2780 |
中文摘要 | 通过分析可见光面阵CCD的响应非均匀性,提出了一种适用于所有面阵CCD的响应非均匀性检测系统。利用该检测系统对全帧型面阵CCD485进行了辐射定标,建立了面阵CCD485数字图像的灰度值和积分球出口处辐照度之间的响应关系,并描绘了响应度曲线。从定标采集得到的数字图像可以看出灰度值有明显的跳跃,响应非均匀性已经超过了5%,在微光拍照时将严重影响成像的质量,所以必须进行校正。根据面阵CCD响应度曲线来选择非均匀性校正算法,考虑到面阵CCD485的响应度为线性,这里采用了两点校正算法,求出面阵CCD各个像元的校正因子(增益和偏置),并存储到校正矩阵中,通过乘积加法运算把各个像元的信号校正成面阵CCD的平均信号值。实验结果表明,两点校正算法使面阵CCD485的响应非均匀性降低到原来的1/10左右,是一种实用有效的校正方法。 |
公开日期 | 2012-09-25 |
源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/22269] ![]() |
专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 李国宁. 可见光面阵CCD响应非均匀性的检测与校正[J]. 液晶与显示,2010,25(5):759-763. |
APA | 李国宁.(2010).可见光面阵CCD响应非均匀性的检测与校正.液晶与显示,25(5),759-763. |
MLA | 李国宁."可见光面阵CCD响应非均匀性的检测与校正".液晶与显示 25.5(2010):759-763. |
入库方式: OAI收割
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。