液晶测试信号源的设计与实现
文献类型：期刊论文
| 作者 | 于涛
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| 刊名 | 液晶与显示
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| 出版日期 | 2006-02-28 |
| 期号 | 1 |
| 关键词 | TFT模块 驱动信号 点缺陷 线缺陷 CPLD 模拟开关 |
| ISSN号 | 1007-2780 |
| 中文摘要 | 根据目前TFT模块的生产现状和需求,依据TFT模块的驱动和测试原理,以及TFT模块的线缺陷和点缺陷的产生原因,设计并实现了一种由MCU、CPLD和模拟多路开关组成的简易测试信号源,该信号源可提供GateOdd,GateEven,Data,Vgg和Vcom5路信号,此5路信号无论在频率、占空比、幅值还是延时上都满足对4·6cm(1.8in),128×160像素液晶模块的线缺陷和点缺陷的测试要求,且测试效果良好。 |
| 公开日期 | 2012-09-25 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/24150]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 于涛. 液晶测试信号源的设计与实现[J]. 液晶与显示,2006(1). |
| APA | 于涛.(2006).液晶测试信号源的设计与实现.液晶与显示(1). |
| MLA | 于涛."液晶测试信号源的设计与实现".液晶与显示 .1(2006). |
入库方式： OAI收割
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