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俄歇复合对同质结InGaAs探测器探测率的影响

文献类型:期刊论文

作者宋航; 蒋红; 缪国庆
刊名半导体光电
出版日期2006-04-30
期号2
关键词InGaAs探测器 探测率 Auger复合
ISSN号1001-5868
中文摘要通过对InGaAs材料的俄歇(Auger)复合机制的理论分析,给出了少子寿命与材料组分、温度和载流子浓度的关系,从而得到材料参数等对InGaAs探测器的探测率影响的结果,优化材料参数和器件结构可抑制Auger复合机制,提高InGaAs探测器的探测率。
公开日期2012-09-25
源URL[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/24179]  
专题长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式
GB/T 7714
宋航,蒋红,缪国庆. 俄歇复合对同质结InGaAs探测器探测率的影响[J]. 半导体光电,2006(2).
APA 宋航,蒋红,&缪国庆.(2006).俄歇复合对同质结InGaAs探测器探测率的影响.半导体光电(2).
MLA 宋航,et al."俄歇复合对同质结InGaAs探测器探测率的影响".半导体光电 .2(2006).

入库方式: OAI收割

来源:长春光学精密机械与物理研究所

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