俄歇复合对同质结InGaAs探测器探测率的影响
文献类型:期刊论文
作者 | 宋航![]() ![]() ![]() |
刊名 | 半导体光电
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出版日期 | 2006-04-30 |
期号 | 2 |
关键词 | InGaAs探测器 探测率 Auger复合 |
ISSN号 | 1001-5868 |
中文摘要 | 通过对InGaAs材料的俄歇(Auger)复合机制的理论分析,给出了少子寿命与材料组分、温度和载流子浓度的关系,从而得到材料参数等对InGaAs探测器的探测率影响的结果,优化材料参数和器件结构可抑制Auger复合机制,提高InGaAs探测器的探测率。 |
公开日期 | 2012-09-25 |
源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/24179] ![]() |
专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 宋航,蒋红,缪国庆. 俄歇复合对同质结InGaAs探测器探测率的影响[J]. 半导体光电,2006(2). |
APA | 宋航,蒋红,&缪国庆.(2006).俄歇复合对同质结InGaAs探测器探测率的影响.半导体光电(2). |
MLA | 宋航,et al."俄歇复合对同质结InGaAs探测器探测率的影响".半导体光电 .2(2006). |
入库方式: OAI收割
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