互补金属氧化物半导体图像传感器亚像元细分精度实验研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 刘智 ; 翟林培 ; 郝志航 |
| 刊名 | 中国激光
 |
| 出版日期 | 2007-01-10 |
| 期号 | 1 |
| 关键词 | 成像系统 互补金属氧化物半导体图像传感器 亚像元细分 细分精度 填充率 |
| ISSN号 | 0258-7025 |
| 中文摘要 | 通过图像处理方法,用软件的方式(亚像元细分)对目标进行定位是一个可有效提高测量精度的途径。主要对互补金属氧化物半导体(CMOS)图像传感器亚像元细分精度的测试方法和测试结果进行研讨。利用压电陶瓷(PZT)精密快扫振镜(FSM)和基于互补金属氧化物半导体图像传感器OV7620的数字相机构建了实验系统,对该互补金属氧化物半导体图像传感器OV7620的亚像元细分精度进行了实验研究。结果表明,OV7620的质心定位精度达到0.17pixel,即能够实现六细分,互补金属氧化物半导体图像传感器具有实现亚像元细分的能力,能够应用于以光斑质心检测为手段的测量系统中。 |
| 公开日期 | 2012-09-25 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/24250]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘智,翟林培,郝志航. 互补金属氧化物半导体图像传感器亚像元细分精度实验研究[J]. 中国激光,2007(1). |
| APA | 刘智,翟林培,&郝志航.(2007).互补金属氧化物半导体图像传感器亚像元细分精度实验研究.中国激光(1). |
| MLA | 刘智,et al."互补金属氧化物半导体图像传感器亚像元细分精度实验研究".中国激光 .1(2007). |
入库方式： OAI收割
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。