Point defects in active layers of TFEL devices based on ZnS
文献类型：期刊论文
| 作者 | Yu L.
|
| 刊名 | Chinese Science Bulletin
 |
| 出版日期 | 1998 |
| 卷号 | 43期号:6页码:518-522 |
| ISSN号 | 1001-6538 |
| 其他题名 | 论文其他题名 |
| 合作状况 | 合作性质 |
| 收录类别 | SCI |
| 语种 | 英语 |
| 公开日期 | 2012-10-21 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/25948]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Yu L.. Point defects in active layers of TFEL devices based on ZnS[J]. Chinese Science Bulletin,1998,43(6):518-522. |
| APA | Yu L..(1998).Point defects in active layers of TFEL devices based on ZnS.Chinese Science Bulletin,43(6),518-522. |
| MLA | Yu L.."Point defects in active layers of TFEL devices based on ZnS".Chinese Science Bulletin 43.6(1998):518-522. |
入库方式： OAI收割
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