氧化层厚度对NPN双极管辐射损伤的影响
文献类型：期刊论文
| 作者 | 席善斌; 陆妩 ; 王志宽; 任迪远; 周东; 文林; 孙静
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| 刊名 | 核技术
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| 出版日期 | 2012 |
| 期号 | 2页码:104-108 |
| 关键词 | NPN双极晶体管 60Coγ辐照 氧化层厚度 剂量率效应 |
| 中文摘要 | 研究了不同氧化层厚度的两种国产NPN双极晶体管在高低剂量率下的辐射效应和退火特性。结果显示,随总剂量的增加,晶体管基极电流增大,电流增益下降,且薄氧化层的晶体管比常规厚氧化层的晶体管退化更严重。另外,两种NPN晶体管均表现出明显的低剂量率损伤增强效应。本文对各种实验现象的损伤机理进行了分析。 |
| 公开日期 | 2012-11-29 |
| 源URL | [http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/1486]  |
| 专题 | 新疆理化技术研究所_新疆维吾尔自治区电子信息材料与器件重点实验室 新疆理化技术研究所_材料物理与化学研究室 固体辐射物理研究室 |
| 作者单位 | 新疆电子信息材料与器件重点实验室;中国科学院新疆理化技术研究所；中国科学院研究生院；模拟集成电路国家重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 席善斌,陆妩,王志宽,等. 氧化层厚度对NPN双极管辐射损伤的影响[J]. 核技术,2012(2):104-108. |
| APA | 席善斌.,陆妩.,王志宽.,任迪远.,周东.,...&孙静.(2012).氧化层厚度对NPN双极管辐射损伤的影响.核技术(2),104-108. |
| MLA | 席善斌,et al."氧化层厚度对NPN双极管辐射损伤的影响".核技术 .2(2012):104-108. |
入库方式： OAI收割
来源：新疆理化技术研究所
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