应用于辐照实验的通用CCD测试电路设计
文献类型：期刊论文
| 作者 | 张乐情; 郭旗 ; 李豫东; 卢健; 张兴尧; 胥佳灵; 于新
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| 刊名 | 半导体技术
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| 出版日期 | 2012 |
| 期号 | 7页码:562-566 |
| 关键词 | 电荷耦合器件 辐射效应 现场可编程门阵列 通用测试电路 电离总剂量 |
| 中文摘要 | 电荷耦合器件(CCD)辐射效应测试系统需具备通用性。通常情况下需要为每一种CCD设计一款测试电路,无法满足通用性要求,通用性电路的难点在于不同CCD要求不同的驱动通道数、驱动时序、信号占空比及工作点。提出了一种适用于多种CCD的测试电路设计方法。以现场可编程门阵列(FPGA)负责时序发生、工作点调节及整个系统的控制,驱动模块采用工作点可调的模式,并结合电荷泵技术,仅需更改FPGA设计及给驱动模块提供不同的工作点电压,便可使以上驱动参数可调,实现测试电路的通用性。采用该方法进行测试还可以适应CCD辐照后工作点的变化。最后通过正确驱动TCD1209线阵CCD和4096×96型TDI-CCD,并对TDI-CCD总剂量辐照实验进行正确的参数测试,验证了通用测试电路设计方法的可行性。 |
| 公开日期 | 2012-11-29 |
| 源URL | [http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/1514]  |
| 专题 | 新疆理化技术研究所_新疆维吾尔自治区电子信息材料与器件重点实验室 新疆理化技术研究所_材料物理与化学研究室 |
| 作者单位 | 中国科学院新疆理化技术研究所；中国科学院新疆电子信息材料与器件重点实验室；中国科学院研究生院 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张乐情,郭旗,李豫东,等. 应用于辐照实验的通用CCD测试电路设计[J]. 半导体技术,2012(7):562-566. |
| APA | 张乐情.,郭旗.,李豫东.,卢健.,张兴尧.,...&于新.(2012).应用于辐照实验的通用CCD测试电路设计.半导体技术(7),562-566. |
| MLA | 张乐情,et al."应用于辐照实验的通用CCD测试电路设计".半导体技术 .7(2012):562-566. |
入库方式： OAI收割
来源：新疆理化技术研究所
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