抗辐射加固封装国产存储器的电子辐照试验
文献类型：期刊论文
| 作者 | 卫宁; 王剑峰; 杜婕; 周聪莉; 郭旗 ; 文林
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| 刊名 | 信息与电子工程
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| 出版日期 | 2010 |
| 期号 | 1页码:87-90 |
| 关键词 | 抗辐射封装 屏蔽 存储器芯片 电子辐照试验 |
| 中文摘要 | 用特种复合屏蔽材料和缝焊封接工艺进行抗辐射封装,在普通封装存储器28C256的基础上,研制了抗辐射封装加固存储器LS28C256R。设计专用试验测试电路板和测试软件,以进行存储器器件加电工作条件下电子加速器辐照试验的动态测试。辐照对比试验结果表明,加固存储器LS28C256R的抗电子源辐照能力比普通封装存储器28C256提高1～2个数量级,为商用成品(Commercial Off-The-Shelf,COTS)器件在空间领域中的应用提供了技术支撑。 |
| 公开日期 | 2012-11-29 |
| 源URL | [http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/1707]  |
| 专题 | 新疆理化技术研究所_材料物理与化学研究室 固体辐射物理研究室 |
| 作者单位 | 航天时代电子公司第771研究所；中国科学院新疆理化技术研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 卫宁,王剑峰,杜婕,等. 抗辐射加固封装国产存储器的电子辐照试验[J]. 信息与电子工程,2010(1):87-90. |
| APA | 卫宁,王剑峰,杜婕,周聪莉,郭旗,&文林.(2010).抗辐射加固封装国产存储器的电子辐照试验.信息与电子工程(1),87-90. |
| MLA | 卫宁,et al."抗辐射加固封装国产存储器的电子辐照试验".信息与电子工程 .1(2010):87-90. |
入库方式： OAI收割
来源：新疆理化技术研究所
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