NPN双极晶体管的ELDRS效应及退火行为
文献类型：期刊论文
| 作者 | 陆妩 ; 任迪远; 郑玉展; 王义元; 郭旗; 余学峰; 何承发
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| 刊名 | 电子产品可靠性与环境试验
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| 出版日期 | 2009 |
| 卷号 | 27期号:z1页码:90-93 |
| 关键词 | NPN双极晶体管 60Coγ辐照 ELDRS 退火 |
| ISSN号 | 1672-5468 |
| 中文摘要 | 对国产NPN双极晶体管在不同剂量率下的辐射效应和退火特性进行了研究.结果显示:在不同剂量率辐照下,NPN晶体管的特性衰降均非常明显.不仅晶体管的过剩基极电流明显增大,直流增益迅速下降,其集电极电流也随辐照总剂量的增加而逐渐衰减,且低剂量率辐照下损伤更明显.本中对造成各种实验现象的损伤机理进行了分析. |
| 公开日期 | 2012-11-29 |
| 源URL | [http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/1897]  |
| 专题 | 新疆理化技术研究所_材料物理与化学研究室 |
| 作者单位 | 中国科学院新疆理化技术研究所；中国科学院研究生院 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陆妩,任迪远,郑玉展,等. NPN双极晶体管的ELDRS效应及退火行为[J]. 电子产品可靠性与环境试验,2009,27(z1):90-93. |
| APA | 陆妩.,任迪远.,郑玉展.,王义元.,郭旗.,...&何承发.(2009).NPN双极晶体管的ELDRS效应及退火行为.电子产品可靠性与环境试验,27(z1),90-93. |
| MLA | 陆妩,et al."NPN双极晶体管的ELDRS效应及退火行为".电子产品可靠性与环境试验 27.z1(2009):90-93. |
入库方式： OAI收割
来源：新疆理化技术研究所
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