双极运算放大器辐射损伤的时间相关性
文献类型：期刊论文
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| 作者 | 陆妩
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| 刊名 | 半导体学报
 ; 半导体学报
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| 出版日期 | 2006 ; 2006 |
| 卷号 | 27期号:7页码:1280-1284 |
| 关键词 | Annealing Annealing Evaluation Evaluation Radiation damage Radiation damage |
| ISSN号 | 2534177 ; 2534177 |
| 其他题名 | time dependence of radiation damage in bipolar operational amplifiers ; time dependence of radiation damage in bipolar operational amplifiers |
| 中文摘要 | 通过一系列辐照实验对双极运放辐射损伤的时间相关性进行了研究.结果表明,双极运放的辐射损伤与时间有着密切的关系,通过调整辐照剂量率、退火温度及时间等参数进行循环辐照-退火实验,可以测评出器件的低剂量率辐射损伤情况,并从界面态角度对这种损伤机理进行了分析.; 通过一系列辐照实验对双极运放辐射损伤的时间相关性进行了研究.结果表明,双极运放的辐射损伤与时间有着密切的关系,通过调整辐照剂量率、退火温度及时间等参数进行循环辐照-退火实验,可以测评出器件的低剂量率辐射损伤情况,并从界面态角度对这种损伤机理进行了分析. |
| 语种 | 中文 ; 中文 |
| 公开日期 | 2012-11-29 ; 2012-11-29 |
| 源URL | [http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/1919]  |
| 专题 | 新疆理化技术研究所_材料物理与化学研究室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陆妩. 双极运算放大器辐射损伤的时间相关性, 双极运算放大器辐射损伤的时间相关性[J]. 半导体学报, 半导体学报,2006, 2006,27, 27(7):1280-1284, 1280-1284. |
| APA | 陆妩.(2006).双极运算放大器辐射损伤的时间相关性.半导体学报,27(7),1280-1284. |
| MLA | 陆妩."双极运算放大器辐射损伤的时间相关性".半导体学报 27.7(2006):1280-1284. |
入库方式： OAI收割
来源：新疆理化技术研究所
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