12位双极数模转换器高低剂量率的辐射效应
文献类型：期刊论文
| 作者 | 王义元; 陆妩 ; 任迪远; 郑玉展; 高博; 李鹏伟; 于跃
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| 刊名 | 核技术
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| 出版日期 | 2008 |
| 卷号 | 31期号:9页码:685-688 |
| 关键词 | 数模转换器 辐射效应 室温退火 ELDRS |
| ISSN号 | 0253-3219 |
| 其他题名 | radiation effects of a 12-bit bipolar digital-to-analog converter under different dose rates |
| 中文摘要 | 通过对12位双极数模转换器在60Co γ射线的高低剂量率的辐照实验和室温退火实验的对比分析,发现数模混合电路在不同剂量率辐照下的电离辐照响应有很大差异.这种混合电路不但表现出明显的低剂量率损伤增强效应,而且表现出时间相关效应.结合辐射响应测试过程和空间电荷模型,对其损伤模块和辐射损伤机理进行初步探讨. |
| 英文摘要 | Total-dose effects and room-temperature annealing behavior of bipolar digital-to-analog converter (DAC) irradiated by 60Co γ-rays were investigated. The results show that the response of the DAC is different between low-and high-dose-rate irradiation. It was found that the integrated circuits exhibit ELDRS and time dependence effect as well. Based on the space charge model, possible mechanism for this response is discussed. |
| 公开日期 | 2012-11-29 |
| 源URL | [http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/2033]  |
| 专题 | 新疆理化技术研究所_材料物理与化学研究室 |
| 作者单位 | 中国科学院新疆理化技术研究所;中国科学院研究生院 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王义元,陆妩,任迪远,等. 12位双极数模转换器高低剂量率的辐射效应[J]. 核技术,2008,31(9):685-688. |
| APA | 王义元.,陆妩.,任迪远.,郑玉展.,高博.,...&于跃.(2008).12位双极数模转换器高低剂量率的辐射效应.核技术,31(9),685-688. |
| MLA | 王义元,et al."12位双极数模转换器高低剂量率的辐射效应".核技术 31.9(2008):685-688. |
入库方式： OAI收割
来源：新疆理化技术研究所
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