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高补偿硅的光敏感特性

文献类型:期刊论文

作者张建; 巴维真; 陈朝阳; 丛秀云; 陶明德; M.K.巴哈迪尔哈诺夫
刊名电子元件与材料
出版日期2004
卷号23期号:3页码:20-22
关键词p型单晶硅 掺杂锰 高补偿硅 光敏感特性
ISSN号1001-2028
其他题名highly compensated si:light-sensitive characteristic
中文摘要对电阻率为5 ·cm的p型单晶硅,在高温条件下采用扩散金属锰的方法,得到高补偿硅。并在室温(25℃)和液氮温度(196℃)下,测试了这种高补偿硅材料对光强的敏感性。测试结果表明:这种材料是一种光敏感材料,其敏感性受外加的电压、样品的温度及补偿后样品的电阻率影响。
英文摘要Highly compensated Si were acquired by diffusing Mn into p-type silicon crystal of 5 Q. o cm at high temperature.It's light-sensitive characteristic was measured at 25°C and -196"C. The measurement results show that obtained materials are sensitive to light and the sensitivity is affected by applied voltage, sample temperature and their resistivity.
学科主题Engineering (provided by Thomson Reuters)
公开日期2012-11-29
源URL[http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/2187]  
专题新疆理化技术研究所_材料物理与化学研究室
作者单位中国科学院新疆理化技术研究所;塔什干国立技术大学
推荐引用方式
GB/T 7714
张建,巴维真,陈朝阳,等. 高补偿硅的光敏感特性[J]. 电子元件与材料,2004,23(3):20-22.
APA 张建,巴维真,陈朝阳,丛秀云,陶明德,&M.K.巴哈迪尔哈诺夫.(2004).高补偿硅的光敏感特性.电子元件与材料,23(3),20-22.
MLA 张建,et al."高补偿硅的光敏感特性".电子元件与材料 23.3(2004):20-22.

入库方式: OAI收割

来源:新疆理化技术研究所

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