Spectroscopic ellipsometry study of In2O3 thin films
文献类型：期刊论文
| 作者 | L. Miao, S. Tanemura, Y. G. Cao and G. Xu |
| 刊名 | Journal of Materials Science-Materials in Electronics
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| 出版日期 | 2009-01 |
| 卷号 | 20页码:71-75 |
| 关键词 | optical-properties anatase growth |
| ISSN号 | 0957-4522 |
| 收录类别 | SCI |
| 原文出处 | http://www.springerlink.com/content/cu41874177h556k5/fulltext.pdf |
| 语种 | 英语 |
| 公开日期 | 2012-11-06 |
| 源URL | [http://ir.fjirsm.ac.cn/handle/335002/3091]  |
| 专题 | 福建物质结构研究所_中科院福建物质结构研究所_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | L. Miao, S. Tanemura, Y. G. Cao and G. Xu. Spectroscopic ellipsometry study of In2O3 thin films[J]. Journal of Materials Science-Materials in Electronics,2009,20:71-75. |
| APA | L. Miao, S. Tanemura, Y. G. Cao and G. Xu.(2009).Spectroscopic ellipsometry study of In2O3 thin films.Journal of Materials Science-Materials in Electronics,20,71-75. |
| MLA | L. Miao, S. Tanemura, Y. G. Cao and G. Xu."Spectroscopic ellipsometry study of In2O3 thin films".Journal of Materials Science-Materials in Electronics 20(2009):71-75. |
入库方式： OAI收割
来源：福建物质结构研究所
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