一种非线性晶体激光损伤阈值的测量方法
文献类型：专利
| 作者 | 兰国政,吴少凡,林文雄. |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 兰国政,吴少凡,林文雄. |
| 中文摘要 | 一种非线性晶体激光损伤阈值的测量方法，涉及一种非线性晶体激光损伤阈值的测量方法。应用高功率连续、准连续固体激光器照射非线性晶体器件，采用He-Ne激光散射法，通过硅光电二极管来接收激光照射非线性晶体器件时，晶体前后表面对He-Ne激光的散射变化，形成脉冲TTL信号，利用继电器来控制设置在光路上的挡板(Shutter)，利用计时器来记录激光照射时间。逐渐加大激光的输出功率，直至硅光电二极管观测到He-Ne激光的散射变化。通过计算这时作用于非线性晶体器件表面的激光功率密度，计算出非线性晶体器件在连续、准连续激光照射下的激光损伤阈值。 |
| 公开日期 | 2012-11-12 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | CN101165474 |
| 源URL | [http://ir.fjirsm.ac.cn/handle/335002/5009]  |
| 专题 | 福建物质结构研究所_中科院福建物质结构研究所_专利 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 兰国政,吴少凡,林文雄.. 一种非线性晶体激光损伤阈值的测量方法. |
入库方式： OAI收割
来源：福建物质结构研究所
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