一种基于条纹相位的干涉图倾斜角测量方法
文献类型:专利
作者 | 冯玉涛![]() |
发表日期 | 2019-07-31 |
专利号 | CN201910703272.0 |
著作权人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明专利 |
产权排序 | 1 |
英文摘要 | 本发明提供了一种基于条纹相位的干涉图倾斜角测量方法,解决了现有倾斜角测量方法中存在精度低、复杂且效率较低的问题。其包括以下步骤:1)计算原始干涉图相位数据;2)对原始干涉图相位数据进行相位补齐操作,得到连续的线性趋势的条纹相位分布;3)利用补齐后的干涉图相位数据计算每个像元采样间隔内的相位区间;4)以平行条纹方向为列方向,垂直条纹方向为行方向,取其中一列相位数据,计算每个像元相对于第一个像元的相位相对偏移量,并利用每个像元采样间隔内的相位区间将相位相对偏移量换算为像元位置相对偏移量;5)以列向像元坐标数组为自变量,像元位置相对偏移量为因变量,拟合出像元位置相对偏移量的变化趋势线,计算倾斜角。 |
公开日期 | 2019-11-15 |
申请日期 | 2019-07-31 |
语种 | 中文 |
状态 | 申请中 |
源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/31989] ![]() |
专题 | 西安光学精密机械研究所_光学影像学习与分析中心 |
作者单位 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 冯玉涛,张亚飞,傅頔,等. 一种基于条纹相位的干涉图倾斜角测量方法. CN201910703272.0. 2019-07-31. |
入库方式: OAI收割
来源:西安光学精密机械研究所
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